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來看看,這是你想了解的殘余奧氏分析儀嗎?
更新時(shí)間:2022-04-27 點(diǎn)擊次數(shù):995次
殘余奧氏分析儀比以往歷代殘余應(yīng)力分析儀較快速、精度較高,提供的數(shù)據(jù)較可靠。XstressDR45的檢測速度和準(zhǔn)確性使殘余應(yīng)力測量方面大大*出了實(shí)驗(yàn)室范圍,并進(jìn)入了生產(chǎn)線。直觀、簡捷的界面的,全新支持軟件與全新技術(shù)相結(jié)合,可提供的工作效率。
殘余奧氏分析儀的主要特點(diǎn):
1、可測奧氏體220/311、鐵素體200/211的衍射峰值強(qiáng)度,符合ASTME975-03國際標(biāo)準(zhǔn);
2、多衍射峰測量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向帶來的影響;
3、使用精密的自動(dòng)反饋控制電路獲得*的X射線發(fā)生器穩(wěn)定性;
4、自動(dòng)調(diào)整高電壓與電流輸出脈動(dòng)值;
5、配備大功率、上等的玻璃(陶瓷)X射線管;
6、高聚焦單毛細(xì)管準(zhǔn)直器,高分辨率CCD探測器。
在許多工業(yè)生產(chǎn)加工過程中,對(duì)殘余奧氏體含量的控制非常嚴(yán)格,精確測量其含量,對(duì)于鋼鐵熱處理過程中產(chǎn)品特性和質(zhì)量的控制有重大意義。因?yàn)榛瘜W(xué)蝕刻和傳統(tǒng)金相研究存在靈敏度和準(zhǔn)確度較低的情況,所以無法做到工業(yè)生產(chǎn)中對(duì)殘余奧氏體的精確測量,而X射線衍射法可以測量低至0.5%的殘余奧氏體含量,故ASTM頒布E975標(biāo)準(zhǔn)方法:X射線法測量近無規(guī)結(jié)晶取向鋼中殘余奧氏體的含量,AreXD正是根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā)。